Analisi quantitativa di fluorescenza a raggi X di materiali legati

Principio

Diversi materiali legati vengono sottoposti a raggi X policromatici. L’energia della radiazione fluorescente risultante viene analizzata con l’ausilio di un rivelatore a semiconduttore e di un analizzatore multicanale. Viene determinata l’energia delle corrispondenti linee caratteristiche di fluorescenza dei raggi X. Per determinare la concentrazione dei costituenti della lega, l’intensità dei rispettivi segnali di fluorescenza viene confrontata con quella degli elementi puri.

Attivita’ proposte

1. Calibrazione del rilevatore di energia a semiconduttore con l’ausilio della radiazione caratteristica del tubo radiogeno al tungsteno.
2. Registrazione degli spettri di fluorescenza prodotti dai campioni legati.
3. Registrazione degli spettri di fluorescenza prodotti dai metalli puri.
4. Determinazione dei valori energetici delle corrispondenti righe di fluorescenza.
5. Calcolo dei livelli di concentrazione dei costituenti della lega.

Obiettivi formativi

• Bremsstrahlung
• Radiazione X caratteristica
• Livelli energetici
• Resa fluorescente
• Effetto coclea
• Diffusione di fotoni coerente e incoerente
• Assorbimento dei raggi X
• Assorbimento dei bordi
• Effetti matrice
• Rivelatori di energia a semiconduttore
• Analizzatori multicanale