Indagine a raggi X di strutture cristalline esagonali / metodo delle polveri Debye-Scherrer
39,150.00 €
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Una lamina di zirconio policristallino viene irradiata con raggi X. Le riflessioni Debye-Scherrer risultanti vengono fotografate e poi valutate.
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Description
Principio
Una lamina di zirconio policristallino viene irradiata con raggi X. Le riflessioni Debye-Scherrer risultanti vengono fotografate e poi valutate.
Attivita’ proposte
- Scatta fotografie Debye-Scherrer del campione di zirconio.
- Valutare gli anelli di Debye-Scherrer e assegnarli ai corrispondenti piani reticolari.
- Determinare le costanti reticolari del materiale campione.
- Determinare il numero di atomi in una cella unitaria del campione.
Obiettivi formativi
- Reticoli cristallini
- sistemi cristallini
- reticolo reciproco
- Indici di Miller
- ampiezza della struttura
- fattore di forma atomica
- Diffusione di Bragg
Additional information
| Livello scolastico | Universita' |
|---|---|
| Destinatari | Docenti, Studenti universitari |
| Tipologia | Esperimento |
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