Misure di diffrazione per determinare l’intensità dei riflessi Debye-Scherrer utilizzando un campione di polvere cubica

Principio

Un campione di polvere cristallizzante policristallina a facce centrate cubiche viene irradiato con la radiazione proveniente da un tubo Roentgen con un anodo di rame. Un contatore Geiger-Mueller viene ruotato automaticamente per rilevare la radiazione riflessa in modo costruttivo dai diversi piani reticolari dei cristalliti. Il diagramma di Bragg viene registrato automaticamente. Le intensità delle singole linee riflesse vengono determinate e confrontate con quelle teoricamente previste. Inoltre, la valutazione consente di assegnare i riflessi di Bragg ai singoli piani del reticolo e di determinare sia la loro spaziatura che il corrispondente tipo di reticolo di Bravais.

Attivita’ proposte

1. Registrare l’intensità dei raggi X Cu dispersi da un campione di polvere di rame cristallizzante cubica in funzione dell’angolo di diffusione.
2. Calcolare le spaziature dei piani del reticolo dalle posizioni angolari delle singole linee di Bragg.
3. Assegnare i riflessi di Bragg ai rispettivi piani reticolari. Calcolare la costante reticolare della sostanza e il tipo di reticolo di Bravais.
4. Determinare l’intensità delle singole linee riflesse e confrontarle con le intensità teoricamente previste.
5. Determina il numero di atomi nella cella unitaria.

Obiettivi formativi

• Reticoli cristallini
• Sistemi cristallini
• Reticolo di Bravais
• Reticolo reciproco
• Indici di Miller
• Fattore di struttura
• Fattore di diffusione atomica
• Fattore di polarizzazione di Lorentz
• Fattore di molteplicità
• Fattore Debye-Waller
• Fattore di assorbimento
• Diffusione di Bragg
• Raggi X caratteristici
• Monocromatazione dei raggi X