Indagine a raggi X di strutture cristalline cubiche / metodo delle polveri di Debye-Scherrer
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Codice MEPA9908605ABX
Quando i campioni policristallini vengono irradiati con raggi X si ottiene un caratteristico schema di diffrazione. Queste riflessioni di Debye-Scherrer vengono fotografate e poi valutate.
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Descrizione
Principio
Quando i campioni policristallini vengono irradiati con raggi X si ottiene un caratteristico schema di diffrazione. Queste riflessioni di Debye-Scherrer vengono fotografate e poi valutate.
Attivita’ proposte
- Devono essere scattate fotografie Debye-Scherrer di campioni in polvere di cloruro di sodio e cloruro di cesio.
- Gli anelli di Debye-Scherrer devono essere valutati e assegnati ai corrispondenti piani reticolari.
- Devono essere determinate le costanti reticolari dei materiali campione.
- Deve essere determinato il numero di atomi nelle celle unitarie di ciascun campione.
Obiettivi formativi
- Reticoli cristallini
- Sistemi cristallini
- Reticolo reciproco
- Indici di Miller
- Ampiezza della struttura
- Fattore di forma atomico
- Diffusione di Bragg
Informazioni aggiuntive
| Livello scolastico | Universita' |
|---|---|
| Destinatari | Studenti universitari |
| Tipologia | Esperimento |
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