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Abintrax-Didact

Indagine a raggi X di strutture cristalline esagonali / metodo delle polveri Debye-Scherrer

Prezzo su richiesta

Codice MEPA9908606ABX

Una lamina di zirconio policristallino viene irradiata con raggi X. Le riflessioni Debye-Scherrer risultanti vengono fotografate e poi valutate.

Codice:8606ABX

Descrizione

Principio

Una lamina di zirconio policristallino viene irradiata con raggi X. Le riflessioni Debye-Scherrer risultanti vengono fotografate e poi valutate.

Attivita’ proposte

  1. Scatta fotografie Debye-Scherrer del campione di zirconio.
  2. Valutare gli anelli di Debye-Scherrer e assegnarli ai corrispondenti piani reticolari.
  3. Determinare le costanti reticolari del materiale campione.
  4. Determinare il numero di atomi in una cella unitaria del campione.

Obiettivi formativi

  • Reticoli cristallini
  • sistemi cristallini
  • reticolo reciproco
  • Indici di Miller
  • ampiezza della struttura
  • fattore di forma atomica
  • Diffusione di Bragg

Informazioni aggiuntive

Livello scolasticoUniversita'
DestinatariDocenti, Studenti universitari
TipologiaEsperimento

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