Indagine a raggi X di strutture cristalline / Metodo Laue con sensore di immagine a raggi X digitale (XRIS)

Principio

I diagrammi di Laue vengono prodotti quando i monocristalli vengono irradiati con raggi X policromatici. Questo metodo viene utilizzato principalmente per la determinazione delle simmetrie cristalline e dell’orientamento dei cristalli. Quando un monocristallo LiF viene irradiato con raggi X policromatici, si ottiene un caratteristico schema di diffrazione. Questo modello è fotografato con il sensore radiografico digitale XRIS.

Attivita’ proposte

1. La diffrazione di Laue di un monocristallo LiF deve essere registrata con l’ausilio del sensore radiografico digitale.
2. Gli indici di Miller delle corrispondenti superfici cristalline sono da assegnare alle riflessioni di Laue.

Obiettivi di apprendimento

• Reticoli cristallini
• Sistemi cristallini
• Classi di cristallo
• Reticolo di Bravais
• Reticolo reciproco
• Indici di Miller
• Ampiezza della struttura
• Fattore di forma atomico
• L’equazione di Bragg

Software incluso. Computer non fornito.