Indagine a raggi X di strutture cristalline / metodo Laue
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Codice MEPA9908607ABX
I diagrammi di Laue vengono prodotti quando i monocristalli vengono irradiati con raggi X policromatici. Questo metodo viene utilizzato principalmente per la determinazione delle simmetrie cristalline e dell’orientamento dei cristalli.
Codice:8607ABX
Categorie:Fisica dei raggi X, Fisica dei raggi X
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Descrizione
Principio
I diagrammi di Laue vengono prodotti quando i monocristalli vengono irradiati con raggi X policromatici. Questo metodo viene utilizzato principalmente per la determinazione delle simmetrie cristalline e dell’orientamento dei cristalli. Quando un monocristallo LiF viene irradiato con raggi X policromatici, si ottiene un caratteristico schema di diffrazione. Questo modello viene fotografato e poi valutato.
Attivita’ proposte
- La diffrazione di Laue di un monocristallo LiF deve essere registrata su una pellicola.
- Gli indici di Miller delle corrispondenti superfici cristalline sono da assegnare alle riflessioni di Laue.
Obiettivi di apprendimento
- Reticoli cristallini
- Sistemi cristallini
- Classi di cristallo
- Reticolo di Bravais
- Reticolo reciproco
- Indici di Miller
- Ampiezza della struttura
- Fattore di forma atomico
- L’equazione di Bragg
Informazioni aggiuntive
| Livello scolastico | Universita', Classi 10-13 |
|---|---|
| Destinatari | Studenti universitari |
| Tipologia | Esperimento |
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