Spettroscopia qualitativa di fluorescenza a raggi X dei metalli – Legge di Moseley

Principio

Vari campioni di metallo vengono sottoposti a raggi X policromatici. L’energia della radiazione fluorescente risultante viene analizzata con l’ausilio di un rivelatore a semiconduttore e di un analizzatore multicanale. Viene determinata l’energia delle corrispondenti linee caratteristiche dei raggi X e il diagramma di Moseley risultante viene utilizzato per determinare la frequenza di Rydberg e le costanti di schermatura.

Vantaggi

• Scopri l’essenza del Premio Nobel: Röntgen (1901)
• Analisi di fluorescenza a raggi X (XRF) di diverse leghe
• Sono possibili anche altre leghe
• Il rilevatore di energia a raggi X (XRED) con analizzatore multicanale (MCA) garantisce velocità di conteggio elevate senza tempo di riscaldamento

Attivita’ proposte

1. Calibrare il rilevatore di energia a semiconduttore con l’aiuto della radiazione caratteristica del tubo radiogeno al tungsteno.
2. Registrare gli spettri della radiazione di fluorescenza generati dai campioni di metallo.
3. Determinare i valori energetici delle corrispondenti linee caratteristiche K α – e K β -linee.
4. Determinare la frequenza di Rydberg e le costanti di screening con l’aiuto dei diagrammi di Moseley risultanti.

Obiettivi formativi

• Bremsstrahlung
• radiazione X caratteristica
• Assorbimento dei raggi X
• Il modello atomico di Bohr
• Livelli energetici
• La legge di Moseley
• Frequenza di Rydberg
• Costante di screening
• Rivelatori di energia a semiconduttore
• Analizzatori multicanale