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AFM compatto, microscopio a forza atomica
78,750.00 €
Microscopio a forza atomica compatto e facile da usare per l’imaging di un’ampia gamma di micro e nanostrutture. Progettato per l’insegnamento, i corsi di laboratorio e la preparazione alla ricerca in fisica, chimica, scienze della vita e ingegneria.
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Available on order
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- New PNRR Notice – Scuola 4.0: Integrated Training Campuses for Technical and Vocational Institutesin 57 days
- New ERDF Notice “Scuola e Competenze” 2021-2027: Innovative Labs in Technical and Vocational Institutesin 57 days
- New POC Notice “Per la Scuola”: Innovative Labs in Technical and Vocational Institutesin 57 days
Description
Funzione e applicazioni
Microscopio a forza atomica compatto e facile da usare per l’imaging di un’ampia gamma di micro e nanostrutture. Progettato per l’insegnamento, i corsi di laboratorio e la preparazione alla ricerca in fisica, chimica, scienze della vita e ingegneria.
Vantaggi
- Dispositivo compatto all-in-one, facile da usare e trasportare
- Soluzione completa che include strumenti, campioni, sonde, strumenti e descrizioni degli esperimenti
- Approccio automatico alla sonda per prevenire danni alla sonda e al campione
- I campioni sono facili da inserire e sostituire
- Non è richiesto alcun allineamento laser
- Sistema di livello di ricerca a circa un terzo del costo di uno strumento di ricerca
Dati tecnici
- Modalità di misura: contatto, dinamica, contrasto di fase, MFM, EFM, spettroscopia di base (forza-distanza, ampiezza-distanza, tensione-distanza)
- Testa di scansione con controllo integrato su piastra base antivibrante, 21 × 21 × 18 cm (L × P × A)
- Meccanismo pieghevole per l’accesso al campione e al cantilever con spegnimento automatico dell’illuminazione del campione e retrazione automatica della testa di scansione; protezione trasparente contro il flusso d’aria e il suono; Interfaccia USB 2.0
- AFM punta-scanner: lineare, elettromagnetico, bassa tensione
- Area di scansione massima: 70 × 70 µm² (dimensione XY, tolleranza di produzione 10%)
- Intervallo Z massimo: 14 µm
- Risoluzione X/Y/Z: 1,1 nm
- Livello di rumore Z (modalità statica RMS): 0,6 nm
- Livello di rumore Z (modalità dinamica RMS): 0,5 nm
- Avvicinamento automatico: verticale, fino a 4,5 mm
- Supporto per cantilever standard di diversi produttori con scanalature di allineamento
- Fotocamera con vista dall’alto: USB, 2048 × 1536 pixel, risoluzione migliore di 2 µm, zoom digitale 1×, 2×, 4×
- Illuminazione campione a LED bianchi con spegnimento automatico
- Espandibile a modalità aggiuntive tramite pacchetti di aggiornamento opzionali
- Controllo esteso dello strumento tramite scripting/accesso all’interfaccia utente (LabView, VisualBasic, …)
- Set cantilever: 4× modalità di contatto, 4× modalità dinamica
- Set di campioni (6): nanotubi di carbonio, timbro CD, struttura del chip, sezione trasversale della pelle, microstruttura, batteri Staphylococcus essiccati
- Quattro portacampioni vuoti per campioni utente
- Set di strumenti per il montaggio di campioni e cantilever
- Potente software per misurazione, analisi e visualizzazione (1D, 2D, 3D)
- Manuale con istruzioni dettagliate per il funzionamento e il software e cinque esperimenti completamente descritti
- Alimentazione: 100–240 V, 50/60 Hz
- Custodia in plastica con scomparti per pacchetti di aggiornamento e fotocamera laterale, 44 × 32 × 25 cm
Additional information
| Livello scolastico | Universita' |
|---|---|
| Destinatari | Docenti, Studenti universitari |
| Tipologia | Apparecchiatura |










