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Cantilever, elettricamente conduttivo, 10 pz., per AFM conduttivo
832.50 €
Price excluding VAT
MEPA code9903918ABX
Modalità di misurazione elettrica a sbalzo del microscopio a forza atomica (09700-99)
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Code:3918ABX
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Description
Funzione e applicazioni
Modalità di misurazione elettrica a sbalzo del microscopio a forza atomica (09700-99)
Dotazione e dati tecnici
- per modalità elettriche (EFM, resistenza alla diffusione, modulazione della forza)
- Materiale: Si, monolitico
- Rivestimento su entrambi i lati: elettricamente conduttivo (Pt/Cr)
- Chip di supporto: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, con scanalature di allineamento
- Raggio della punta: inferiore a 25 nm
- Frequenza di risonanza: 75 kHz
- Costante della molla: 3 N/m
- Lunghezza: 0,225 mm
- Larghezza: 0,028 mm
- 10 pezzi
- Peso: 0,04 kg
Additional information
| Destinatari | Docenti, Studenti universitari |
|---|---|
| Tipologia | Apparecchiatura |










