Cantilever, elettricamente conduttivo, 10 pz., per AFM conduttivo
Prezzo su richiesta
Codice MEPA9903918ABX
Modalità di misurazione elettrica a sbalzo del microscopio a forza atomica (09700-99)
Codice:3918ABX
€Finanziabile con fondi PNRR e bandi
Acquistabile con i fondi degli avvisi attivi — ti aiutiamo a individuare il bando giusto per la tua scuola.
- Scuole, via libera al raffrescamento: finanziate 6.342 istituzioni con oltre 3.100 euro a testa174 giorni
- DM 38/2026 – Acquisto dispositivi digitali, libri e sussidi didattici
- Fondi PNRR per scuole superiori: fino a 600.000 euro per laboratori STEM e multilinguismo
Descrizione
Funzione e applicazioni
Modalità di misurazione elettrica a sbalzo del microscopio a forza atomica (09700-99)
Dotazione e dati tecnici
- per modalità elettriche (EFM, resistenza alla diffusione, modulazione della forza)
- Materiale: Si, monolitico
- Rivestimento su entrambi i lati: elettricamente conduttivo (Pt/Cr)
- Chip di supporto: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, con scanalature di allineamento
- Raggio della punta: inferiore a 25 nm
- Frequenza di risonanza: 75 kHz
- Costante della molla: 3 N/m
- Lunghezza: 0,225 mm
- Larghezza: 0,028 mm
- 10 pezzi
- Peso: 0,04 kg
Informazioni aggiuntive
| Destinatari | Docenti, Studenti universitari |
|---|---|
| Tipologia | Apparecchiatura |










