Determinazione delle costanti reticolari di un monocristallo

Principio

I raggi X policromatici colpiscono un monocristallo sotto vari angoli di osservazione. I raggi vengono riflessi dai piani reticolari del monocristallo. Un rilevatore di energia viene utilizzato solo per misurare quelle parti di radiazione che interferiscono in modo costruttivo. La costante reticolare del cristallo viene determinata con l’ausilio dei diversi ordini di diffrazione e dell’energia dei raggi riflessi.

Attivita’ proposte

1. Determinazione dell’energia dei raggi X che vengono riflessi sui piani reticolari del cristallo LiF per vari angoli di osservazione o ordini di diffrazione.
2. Calcolo della costante reticolare del cristallo LiF in base agli angoli radenti e ai valori energetici associati.

Obiettivi formativi

• Bremsstrahlung
• Radiazione X caratteristica
• Livelli energetici
• Strutture cristalline
• Reticolo di Bravais
• Reticoli reciproci
• Indici di Miller
• Diffusione di Bragg
• Interferenza
• Rivelatori a semiconduttore
• Analizzatori multicanale