Misure di diffrazione di Debye-Scherrer per l’esame della tessitura di lamiere laminate

Principio

Un campione di polvere di rame cristallizzante policristallina e cubica a facce centrate e un sottile foglio di rame vengono irradiati separatamente con la radiazione proveniente da un tubo Roentgen con un anodo di rame. Un contatore Geiger-Mueller viene ruotato automaticamente per rilevare la radiazione riflessa in modo costruttivo dai diversi piani reticolari dei cristalliti. I diagrammi di Bragg vengono registrati automaticamente. La valutazione consente di assegnare i riflessi di Bragg ai singoli piani reticolari. A differenza del campione in polvere, la lastra sottile laminata fornisce uno spettro che mostra un allineamento dei cristalliti (texture laminata), reso ancora più completo dal riscaldamento della lastra.

Attivita’ proposte

1. Registrare l’intensità dei raggi X Cu dispersi da un campione di polvere di rame cristallizzante cubica in funzione dell’angolo di diffusione.
2. Assegnare i riflessi di Bragg ai singoli piani reticolari.
3. Registra lo spettro di Bragg di un sottile foglio di rame.
4. Ripetere le misurazioni effettuate nell’attività 3 dopo che il foglio di rame è stato sottoposto a ricottura.

Obiettivi formativi

• Reticoli cristallini
• Sistemi cristallini
• Reticolo di Bravais
• Reticolo reciproco
• Indici di Miller
• Fattore di struttura
• Fattore di diffusione atomica
• Diffusione di Bragg
• Raggi X caratteristici
• Monocromatazione dei raggi X
• Trame di fibre
• Trame del foglio
• Trama di ricottura
• Ricristallizzazione