Set di aggiornamento per l’analisi dei materiali, per microscopio a forza atomica compatto

Funzione e applicazioni

Pacchetto software per estendere le modalità operative del microscopio compatto a forza atomica (09700-99) con AFM conduttivo, modulazione di forza e resistenza alla diffusione per l’analisi dei materiali. incl. Set di campioni e cantilever.

Dotazione e dati tecnici

• Pacchetto software/Chiave di attivazione per:
• Spettroscopia corrente-tensione con modulazione di forza di diffusione AFM conduttiva
• Set di 3 campioni:
• Campione per MFM (microscopia a forza magnetica) – Nastro di archiviazione dati digitale (DDS) Campione per resistenza alla diffusione – Campione in grafite (HOPG) per contrasto di fase – Pellicole PS/PMMA
• Set di 8 cantilever:
• 4 x Multi75E-G (rivestimento conduttivo Pt/Cr, modalità Dynamic Force) per modulazione della forza, EFM, resistenza alla diffusione, AFM conduttivo 4 x MFMR (rivestimento magnetico, modalità Dynamic Force) per MFM

Per ulteriori istruzioni fare riferimento al manuale AFM fornito con il dispositivo AFM e integrato nel pacchetto software Measure Nano (pannello di aiuto). Il campione PS/PMMA è adatto anche per la spettroscopia di forza e lo scratching insieme al set di base (09700-99) e/o all’aggiornamento di manipolazione (09702-00)